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S-9380

カテゴリ
CD-SEM
概要(Overview)

The S-9380 is Hitachi’s most advanced CD-measurement SEM developed for 65 nm process control of semiconductor devices on wafers up to 300 mm in diameter. With improvement in both hardware and software, the S-9380 supports a high throughput of 33 wafers per hour with 20 measurement points per wafer, and resolution of 2.0 nm.

現在の掲載品

5

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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