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standard configuration, see specification X-Ray fluorescence for analysis of materials (such as liquids and solid states) in order to obtain information about thickness, concentrataion, etc.Measurement system for layer thickness analysis of metallic surfaces and evaluation of concentrations of solutions (Au, Ni, Sn, Cu, Ag).System is fully packed on pallette (241kg, 1mx0,9mx1,5m)OEMモデルの説明
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OXFORD
CMI 950
検証済み
カテゴリ
Analytical
主なアイテムの詳細
状態：
不明
稼働ステータス:
不明
製品ID：
12965
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2000
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最終検証： 60日以上前
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