説明
説明なし構成
Missing parts: FI-power supply, FI-computer HDD, LFS, stage controller, RF-amplifier, stage cable(one-axis), chiller, ACS, console main-computer.OEMモデルの説明
Compass 300 Inspection system, tailored for monitoring processes up to the 100nm tech node. Detect critical flaws efficiently using OMNIView™, a cutting-edge laser scanning method that captures diverse defects across all layers.ドキュメント
ドキュメントなし
APPLIED MATERIALS (AMAT)
COMPASS 300
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
61964
ウェーハサイズ:
不明
ヴィンテージ:
2003
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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COMPASS 300
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証: 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
61964
ウェーハサイズ:
不明
ヴィンテージ:
2003
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Missing parts: FI-power supply, FI-computer HDD, LFS, stage controller, RF-amplifier, stage cable(one-axis), chiller, ACS, console main-computer.OEMモデルの説明
Compass 300 Inspection system, tailored for monitoring processes up to the 100nm tech node. Detect critical flaws efficiently using OMNIView™, a cutting-edge laser scanning method that captures diverse defects across all layers.ドキュメント
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