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MI-9700

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

A newly developed digital interpolation technology enables very detailed inspection of reticles down to 7.5µm resolution. Without the use of a hardware verification system, the scan result can be displayed immediately while the scan is completed. It makes the whole scan more efficient.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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