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FSP12Ⅴ

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

FineSAT Ⅴ can obtain and image data in 20 µm pitch in standard specification and in 10 µm or smaller pitch in optional specification, enabling detailed measurement of a large sample in a single scan. It also enables various image displays that support high-precision analysis/evaluation. Probe frequency (MHz): 5–300

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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