メインコンテンツにスキップ
Moov logo

Moov Icon

eP3

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

high resolution tool down to 3nm that performs hot spot inspection for both logic and memory fabs as a customers' process node goes into volume production. eP3 for 3nm is seeing demand from memory fabs' 25nm to 20nm migration.

現在の掲載品

1

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

トップ掲載リスト

このような製品をお持ちですか?
Moovに掲載品して、すぐに申し分ない購入者を見つけましょう。