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eP3

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

high resolution tool down to 3nm that performs hot spot inspection for both logic and memory fabs as a customers' process node goes into volume production. eP3 for 3nm is seeing demand from memory fabs' 25nm to 20nm migration.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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