eScan 430
概要（Overview）
Fast e-beam inspection for process development and production monitoring for 3D NAND and other advanced chips. The HMI eScan 430 is a high-throughput e-beam wafer inspection system, capable of detecting patterning and electrical defects.
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません