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eScan 600

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

This flexible e-beam inspection solution detects multiple defect types in one system. The eScan 600 is a highly flexible e-beam wafer inspection system that can operate in multiple modes, allowing chipmakers to capture the widest variety of defect types in a single system.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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