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LMS IPRO5

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The next-generation system, the LMS IPRO5, is designed to support the stringent precision and repeatability requirements for pattern placement metrology of reticles supporting advanced lithography techniques and 3Xnm to 2Xnm node devices.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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