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MT2010

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The MT2010 is designed for high precision defect inspection and metrology tasks on masks up to 6”. The system uses different illumination sources in transmitted and reflected light such as visible, I-line (365nm) and DUV (248nm). MT2010 comes with laser autofocus and an anti-vibration isolating base frame with light tower.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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