M-2000U
カテゴリ
Elipsometry概要（Overview）
245-1000nm, 470 wavelengths Ideal for many thin films: dielectrics, organics, semiconductors, metals, and more. Measure optical constants and thickness for coatings from subnanometer to tens of microns.
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません