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NX1032XS

カテゴリ
Final Test
概要(Overview)

IC Test Handler Up to 32 site testing capability Testing area from 344mm x 244mm Up to 480kgf contact force UPH - up to 20,000 (Ambient) & Up to 10,500 (High Temperature)

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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