HELIOS G4 PFIB HXe
概要（Overview）
The Thermo Scientific™ Helios™ G4 PFIB HXe DualBeam System provides unique capabilities to enable damage-free delayering of 10nm semiconductor devices and advanced failure analysis of 3D packages, in addition to a wide range of other large area FIB processing applications.
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません