ULTRASCAN 9600
カテゴリ
Metrology概要（Overview）
UltraScan Wafer Metrology System The 9600 and 9650 systems, introduced in 1994 and based on the more advanced E-Plus station, measure thickness down to an accuracy of 0.25 microns.
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サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
