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市場 > Metrology > KLA / ADE > NANOXAM
KLA / ADE

NANOXAM

カテゴリ
Metrology
概要（Overview）

NanoXam is the first ADE metrology tool specifically developed as patterned wafer metrology tool for copper CMP processes.

現在の掲載品

0

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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