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KLA ARCHER AIM+
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    OEMモデルの説明
    The Archer AIM+ is an advanced optical overlay metrology tool that sets the standard for lithography process control through the > 45-nm node. It improves yield and cost of ownership with a 20% increase in throughput over previous-generation solutions. It features field-proven AIM grating-style technology, improved optics design, and high accuracy measurements. Its applications include overlay metrology, CMP, lithography, and wafer surface focus and analysis.
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    カテゴリ

    Metrology
    最終検証： 60日以上前
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    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    58340

    ウェーハサイズ：

    12"/300mm

    ヴィンテージ：

    2006

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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
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    Available
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    KLAARCHER AIM+Metrology
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    最終確認60日以上前
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