メインコンテンツにスキップ
市場 > Metrology > KLA > SpectraFilm F1

SpectraFilm F1

カテゴリ
Metrology
概要(Overview)

The SpectraFilm F1 film metrology system, introduced in September 2017, employs new optical technologies that determine single- and multi-layer film thicknesses and uniformity with high precision to monitor deposition processes in production, and deliver bandgap data that predict device electrical performance earlier than end of line test.

現在の掲載品

0

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

トップ掲載リスト

    製品が見つかりません
このような製品をお持ちですか?
Moovに掲載品して、すぐに申し分ない購入者を見つけましょう。