S3000SX
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Metrology概要(Overview)
The S3000SX thin film metrology system is for transparent films in advanced semiconductor fabrication applications at the 28nm node and below.
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検査、保証、鑑定、ロジスティクス
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The S3000SX thin film metrology system is for transparent films in advanced semiconductor fabrication applications at the 28nm node and below.
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