説明
Critical Dimension (CD) Measurement (non SEM)構成
構成なしOEMモデルの説明
A wide range of 2D/3D and in-die metrology solutions for Dielectric and Copper CMP, Photolithography, Etch and CVDドキュメント
ドキュメントなし
NOVA
NS3090Next SA
検証済み
カテゴリ
Metrology
最終検証: 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
62737
ウェーハサイズ:
不明
ヴィンテージ:
不明
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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