NX-WAFER
カテゴリ
Metrology概要（Overview）
Automated AFM metrology system for semiconductor and related fabrications. Provides wafer fab inspection and analysis, automatic defect review for bare wafers and substrates, and CMP profile measurements. Capable of scanning 300 mm wafers
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サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
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