RD8
カテゴリ
Metrology概要（Overview）
200x200mm area (2 to 8 inch wafer) photoluminescence, epitaxial layer thickness mapping, wafer curvature measurement system and more for LED/LD, sensor materials, phosphors in R&D and production. Multiple options for pre-installed photoluminescence laser excitation sources, transmitivity, reflectivity measurement in one extremely compact design.
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません