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市場 > Probers > SEMES > IP-300H

IP-300H

カテゴリ
Probers
概要(Overview)

Feature: Application for wafer size : 8”~12” Contact accuracy : ±1㎛ (Advanced motion control technology) Improvement of loading accuracy (Wafer change and align time reduction) Stiffness Z-axis (250 kgf) Application of auto leveling / securing the stability of contact (10㎛) Auto card change (Side auto card change)

現在の掲載品

0

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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