説明
No missing parts System was shutdown according to normal procedure Stage air bearing was damaged before shutting down構成
LDS3300M Macro-Module 30um Head - sensitivity for surface defects down to 10um 100% Wafer Surface Inspection 200mm+300mm - Bare & Pattern Wafers Throughput 200mm - 140 WPH 300mm - 130 WPHOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
KLA / VISTEC / LEICA
LDS 3300M
検証済み
カテゴリ
Reticle / Mask Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
23604
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
2007
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Used
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不明
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8"/200mm, 12"/300mm
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No missing parts System was shutdown according to normal procedure Stage air bearing was damaged before shutting down構成
LDS3300M Macro-Module 30um Head - sensitivity for surface defects down to 10um 100% Wafer Surface Inspection 200mm+300mm - Bare & Pattern Wafers Throughput 200mm - 140 WPH 300mm - 130 WPHOEMモデルの説明
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