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KLA / VISTEC / LEICA LDS 3300M
    説明
    No missing parts System was shutdown according to normal procedure Stage air bearing was damaged before shutting down
    構成
    LDS3300M Macro-Module 30um Head - sensitivity for surface defects down to 10um 100% Wafer Surface Inspection 200mm+300mm - Bare & Pattern Wafers Throughput 200mm - 140 WPH 300mm - 130 WPH
    OEMモデルの説明
    提供なし
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA / VISTEC / LEICA

    LDS 3300M

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Reticle / Mask Inspection

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    23604


    ウェーハサイズ:

    8"/200mm, 12"/300mm


    ヴィンテージ:

    2007


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    Reticle / Mask Inspection
    ヴィンテージ: 2007状態: 中古
    最終確認60日以上前

    KLA / VISTEC / LEICA

    LDS 3300M

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    検証済み
    カテゴリ
    Reticle / Mask Inspection
    最終検証: 60日以上前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    23604


    ウェーハサイズ:

    8"/200mm, 12"/300mm


    ヴィンテージ:

    2007


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    No missing parts System was shutdown according to normal procedure Stage air bearing was damaged before shutting down
    構成
    LDS3300M Macro-Module 30um Head - sensitivity for surface defects down to 10um 100% Wafer Surface Inspection 200mm+300mm - Bare & Pattern Wafers Throughput 200mm - 140 WPH 300mm - 130 WPH
    OEMモデルの説明
    提供なし
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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