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ALTURA 855

カテゴリ
SEM / FIB
概要(Overview)

FEl's Altura- 855 offers the ultimate tools for defect characterization, failure analysis, and TEM sample preparation on patterned and unpatterned wafers, as well as piece parts.

現在の掲載品

1

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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