HELIOS G4 PFIB CXe
カテゴリ
SEM / FIB概要（Overview）
Helios G4 PFIB CXe DualBeam provides unique capabilities to enable advanced failure analysis of 3D packages, damage free delayering of semiconductor devices in addition to a wide range of other large area FIB processing applications.
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません