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HELIOS G4 PFIB CXe

カテゴリ
SEM / FIB
概要(Overview)

Helios G4 PFIB CXe DualBeam provides unique capabilities to enable advanced failure analysis of 3D packages, damage free delayering of semiconductor devices in addition to a wide range of other large area FIB processing applications.

現在の掲載品

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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