SU1500
カテゴリ
SEM / FIB概要(Overview)
the advanced technologies incorporated into the SU-1500 provide a guaranteed secondary electron resolution of 3.0nm (high vacuum mode) and a guaranteed backscattered electron resolution of 4.0nm (variable pressure mode).
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません