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市場 > SEM / FIB > HITACHI > CR6300

HITACHI

CR6300

カテゴリ

SEM / FIB

概要（Overview）

High-Speed Defect Review SEM Wafer size: Φ300mm (SEMI standard V notched wafer)

現在の掲載品

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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