SU8020
カテゴリ
SEM / FIB概要(Overview)
Lower/Upper/Top (Triple) SE detectors to extend the capability to collect secondary electrons and low energy backscattered electrons This novel, ultrasensitive detection system allows high efficiency, simultaneous multi-signal imaging and energy filtering.
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません