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説明
-2007 Vintage -Sample wafer holders not included構成
-Cold field emission SEM, with detectors for SE, BSE and low angle BSE Including Loadlock and EDS (LN2 cooled). -Low voltage SEM. Possible acceleration voltages 0.1-30 kV. -Cross section inspection: up to 1.5 cm -Top down inspection: Wafers up to 2" -Windows XP PC and software needs to be upgradedOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
検証済み
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 24日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
121169
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2007
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
JEOL
JSM-7500FA
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SEM / FIB
最終検証： 24日前
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不明
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不明
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2007
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-2007 Vintage -Sample wafer holders not included構成
-Cold field emission SEM, with detectors for SE, BSE and low angle BSE Including Loadlock and EDS (LN2 cooled). -Low voltage SEM. Possible acceleration voltages 0.1-30 kV. -Cross section inspection: up to 1.5 cm -Top down inspection: Wafers up to 2" -Windows XP PC and software needs to be upgradedOEMモデルの説明
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