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6" Fab For Sale from Moov - Click Here to Learn More
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LEO 1455
    説明
    LEO Scanning Electron Microscope (Parts only)
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    SEM feature extra-large chambers for the non-destructive examination of large samples
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    LEO

    1455

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    SEM / FIB

    最終検証: 7日前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    116674


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    LEO 1455

    LEO

    1455

    SEM / FIB
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認7日前

    LEO

    1455

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    検証済み
    カテゴリ
    SEM / FIB
    最終検証: 7日前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    116674


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


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    Available
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    Available
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    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    SEM feature extra-large chambers for the non-destructive examination of large samples
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    ドキュメントなし

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    SEM / FIBヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:7日前