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SUPRA 60

カテゴリ
SEM / FIB
概要(Overview)

The large cylindrical chamber with a refined 6" super eucentric stage and 8" integrated airlock offers the perfect solution for full wafers and cross sectional semiconductor applications, and for users who need to image a variety of large samples.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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