説明
Detectors: Secondary electron (SEI) Low vac SEI (VPSE G4) Back scatter (HDBSD)構成
-W and LaB6 cathodesOEMモデルの説明
Zeiss EVO 15 Scanning Electron Microscope. This is a flexible variable pressure SEM with wide range of detectors and analysis software. Sample prep is supported with a Cressington gold sputter coater and a Leica carbon coater.ドキュメント
ドキュメントなし
ZEISS / CARL ZEISS
EVO MA15
検証済み
カテゴリ
SEM
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
58413
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2016
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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ZEISS / CARL ZEISS
EVO MA15
検証済み
カテゴリ
SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
58413
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2016
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Available
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Available
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Detectors: Secondary electron (SEI) Low vac SEI (VPSE G4) Back scatter (HDBSD)構成
-W and LaB6 cathodesOEMモデルの説明
Zeiss EVO 15 Scanning Electron Microscope. This is a flexible variable pressure SEM with wide range of detectors and analysis software. Sample prep is supported with a Cressington gold sputter coater and a Leica carbon coater.ドキュメント
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