説明
説明なし構成
-Resolution: 1,8 nm at 1kV or 0,5 nm at 30kV -Magnification: Low magnification mode: 60 to 10k x (accuracy ± 10%) High magnification mode: 800 to 2,000k x (accuracy ± 10%) -Electron source: Cold-cathode field emission type electron source -STEM option: brightfield /darkfield STEM Detector, STEM sample holder -EDX X-MAX 80 (2012) AZtec EDX Software Advanced -Point electronic DISS5 (2012) -Hitachi ZONE-TEM Desktop Sample Cleaner (2014) power is 200/208/230 VAC, Single Phase, 50/60 Hz, 4 kVAOEMモデルの説明
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HITACHI
S-5200
検証済み
カテゴリ
SEM
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稼働ステータス:
Installed / Running
製品ID：
96224
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不明
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HITACHI
S-5200
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最終検証： 60日以上前
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96224
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-Resolution: 1,8 nm at 1kV or 0,5 nm at 30kV -Magnification: Low magnification mode: 60 to 10k x (accuracy ± 10%) High magnification mode: 800 to 2,000k x (accuracy ± 10%) -Electron source: Cold-cathode field emission type electron source -STEM option: brightfield /darkfield STEM Detector, STEM sample holder -EDX X-MAX 80 (2012) AZtec EDX Software Advanced -Point electronic DISS5 (2012) -Hitachi ZONE-TEM Desktop Sample Cleaner (2014) power is 200/208/230 VAC, Single Phase, 50/60 Hz, 4 kVAOEMモデルの説明
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