NVision 40
カテゴリ
SEM概要（Overview）
The NVision 40 operates with two beams, one electron beam and one ion beam. Both beams can be used independently of each other to generate images using the secondary electrons emitted from the surface of the specimen. The ion beam can be used for imaging in addition material removal or coating purposes.
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません