NanoSpec AFT 210 VT
概要（Overview）
The Nanometrics NanoSpec AFT 210 VT is a computerized, optical non-contact thin-film thickness measurement system used primarily in semiconductor manufacturing and cleanrooms.
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ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
NanoSpec AFT 210 VT
Thin Film / Film Thicknessヴィンテージ： 状態： 中古最終確認11日前ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
NanoSpec AFT 210 VT
Thin Film / Film Thicknessヴィンテージ： 状態： 中古最終確認11日前ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
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Thin Film / Film Thicknessヴィンテージ： 状態： 中古最終確認30日以上前
