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6035

カテゴリ
Wafer Testing
概要(Overview)

ADE’s Model 6035 uses non-contact eddy-current probes to accurately measure Bulk Resistivity of wafers. This MicroSense system handles wafers up to 150mm in diameter, and is useful in the laboratory for materials research or on the production line for quality, process control, and yield analysis.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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