説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
ODIN is a fully automated high-resolution AOI tool for the optical inspection of patterned and non-patterned wafers, their edges and back sides. All these features are seamlessly integrated in one single platform. Advanced 2D- and 3D metrology options for CD, OVL, VIA and film thickness and additional modules for super-fast macro scans (WOTAN) and edge inspection (THOR) enable true all-side wafer inspection and characterization.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
AOI
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
143349
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB
ODIN
カテゴリ
AOI
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
143349
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
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Available
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Available
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ODIN is a fully automated high-resolution AOI tool for the optical inspection of patterned and non-patterned wafers, their edges and back sides. All these features are seamlessly integrated in one single platform. Advanced 2D- and 3D metrology options for CD, OVL, VIA and film thickness and additional modules for super-fast macro scans (WOTAN) and edge inspection (THOR) enable true all-side wafer inspection and characterization.ドキュメント
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