説明
CD SEM構成
構成なしOEMモデルの説明
The Applied VeritySEM 4i+ metrology system uses proprietary SEM imaging technology to enable precise control of the lithography and etching processes, measuring CDs at a precision of less than 0.3nm. Applied’s OPC Check software for the VeritySEM system performs automated qualification of OPC-based (optical proximity correction) chip designs, significantly reducing mask verification time over conventional manual methods.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
105898
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
同様のリスト
すべて表示
APPLIED MATERIALS (AMAT)
VeritySEM 4i+
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
105898
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
CD SEM構成
構成なしOEMモデルの説明
The Applied VeritySEM 4i+ metrology system uses proprietary SEM imaging technology to enable precise control of the lithography and etching processes, measuring CDs at a precision of less than 0.3nm. Applied’s OPC Check software for the VeritySEM system performs automated qualification of OPC-based (optical proximity correction) chip designs, significantly reducing mask verification time over conventional manual methods.ドキュメント
ドキュメントなし