説明
説明なし構成
Resolution 5nm, Repeatability 1%, CD range ≥0.1μm Original spec - 8inch Si Notched Modified spec - 8inch Si/ SiC/ GaAs/ GaN/LiTaO/ SapphireOEMモデルの説明
High-resolution critical-dimension measurement scanning electron microscopes (CD-SEMs)ドキュメント
ドキュメントなし
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HITACHI
S-8840
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Refurbished
稼働ステータス:
不明
製品ID：
131710
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
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Resolution 5nm, Repeatability 1%, CD range ≥0.1μm Original spec - 8inch Si Notched Modified spec - 8inch Si/ SiC/ GaAs/ GaN/LiTaO/ SapphireOEMモデルの説明
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