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市場 > CD-SEM > HITACHI > S-8640

S-8640

カテゴリ
CD-SEM
概要(Overview)

S-8640 high-resolution critical-dimension measurement scanning electron microscopes (CD-SEMs) capable of handling 300-mm wafers.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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