説明
説明なし構成
Resolution 5nm, Repeatability 1%, CD range ≥0.1μm Original spec - 6 inch Si OF Modified spec - 4/6inch Si/ SiC (on tray)OEMモデルの説明
S-8640 high-resolution critical-dimension measurement scanning electron microscopes (CD-SEMs) capable of handling 300-mm wafers.ドキュメント
ドキュメントなし
HITACHI
S-8640
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Refurbished
稼働ステータス:
不明
製品ID：
131709
ウェーハサイズ：
4"/100mm, 6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
Resolution 5nm, Repeatability 1%, CD range ≥0.1μm Original spec - 6 inch Si OF Modified spec - 4/6inch Si/ SiC (on tray)OEMモデルの説明
S-8640 high-resolution critical-dimension measurement scanning electron microscopes (CD-SEMs) capable of handling 300-mm wafers.ドキュメント
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