説明
説明なし構成
QPA_DefectOEMモデルの説明
Compass 300 Inspection system, tailored for monitoring processes up to the 100nm tech node. Detect critical flaws efficiently using OMNIView™, a cutting-edge laser scanning method that captures diverse defects across all layers.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 12日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
144874
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2002
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
APPLIED MATERIALS (AMAT)
COMPASS 300
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 12日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
144874
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2002
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
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QPA_DefectOEMモデルの説明
Compass 300 Inspection system, tailored for monitoring processes up to the 100nm tech node. Detect critical flaws efficiently using OMNIView™, a cutting-edge laser scanning method that captures diverse defects across all layers.ドキュメント
ドキュメントなし