説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The Applied SEMVision G3 FIB integrates advanced defect review SEM capability with automated focused ion beam (FIB) technology in one system. The FIB provides a cross-sectional view of the defects reviewed by the SEM, enabling chipmakers to analyze the defects in minutes as part of their in-line review process.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 3日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
142921
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION G3 FIB
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 3日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
142921
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The Applied SEMVision G3 FIB integrates advanced defect review SEM capability with automated focused ion beam (FIB) technology in one system. The FIB provides a cross-sectional view of the defects reviewed by the SEM, enabling chipmakers to analyze the defects in minutes as part of their in-line review process.ドキュメント
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