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SEMVISION G2+E

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

"The high-throughput, fully automatic Applied SEMVision G2 Defect Analysis system enables customers to use this technology as an integral part of their production lines to analyze defects as small as 50nm with high productivity."

現在の掲載品

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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