説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
"The high-throughput, fully automatic Applied SEMVision G2 Defect Analysis system enables customers to use this technology as an integral part of their production lines to analyze defects as small as 50nm with high productivity."ドキュメント
ドキュメントなし
APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION G2+E
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Refurbished
稼働ステータス:
不明
製品ID：
24507
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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SEMVISION G2+E
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不明
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