説明
SEM REVIEW, CU構成
SECS/GEM Capability • Factory Interface: o WIP Delivery: OHT o 25 wafer front opening unified pod (FOUP) carrier (2) • Review Station, SEM Review • 2nm physical resolution • Complete 3D data for superior defect visualization and classification • Analysis of defects as small as 30nm • Facilities Information: o OFA o Process Vacuum o Gases o Process Cooling Water o Ultra pure waterOEMモデルの説明
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ドキュメントなし
APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION GX
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
73736
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION GX
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
73736
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
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SEM REVIEW, CU構成
SECS/GEM Capability • Factory Interface: o WIP Delivery: OHT o 25 wafer front opening unified pod (FOUP) carrier (2) • Review Station, SEM Review • 2nm physical resolution • Complete 3D data for superior defect visualization and classification • Analysis of defects as small as 30nm • Facilities Information: o OFA o Process Vacuum o Gases o Process Cooling Water o Ultra pure waterOEMモデルの説明
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