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The FEI Expida 1285 offers the ultimate in defect characterization, failure analysis and TEM sample preparation on patterned and unpatterned wafers. With fast and accurate 3D defect characterization, you get increased control and improved yield. The Expida 1285 includes an integrated front-end module designed to simultaneously handle 200mm and 300mm wafers using load port modules in addition to all of the performance specification of the Expida 1255S.ドキュメント
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 5日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
Installed / Running
製品ID：
149638
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
EXPIDA 1285
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 5日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
Installed / Running
製品ID：
149638
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available