説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
HMI’s first e-beam inspection system, eScan300, was developed in 2003, marking the company’s first step towards improving the performance of microchip manufacturing.ドキュメント
ドキュメントなし
ASML / HMI
eScan 300
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
89335
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ASML / HMI
eScan 300
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
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状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
89335
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不明
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