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eScan 1100

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The first multiple e-beam (multibeam) wafer inspection system for in-line defect inspection applications. Following in the footsteps of the eScan 1000, the eScan 1100 offers new levels of efficiency in high throughput wafer inspection.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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