説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The first multiple e-beam (multibeam) wafer inspection system for in-line defect inspection applications. Following in the footsteps of the eScan 1000, the eScan 1100 offers new levels of efficiency in high throughput wafer inspection.ドキュメント
ドキュメントなし
ASML / HMI
eScan 1100
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
72756
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ASML / HMI
eScan 1100
カテゴリ
Defect Inspection
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状態：
Used
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不明
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72756
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不明
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The first multiple e-beam (multibeam) wafer inspection system for in-line defect inspection applications. Following in the footsteps of the eScan 1000, the eScan 1100 offers new levels of efficiency in high throughput wafer inspection.ドキュメント
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